Låga nivåer av elektromagnetiska fält (50 gånger under ICNIRP:s gränsvärde på 100 mikrotesla) ökar halterna av kväveoxid i hjärnan på exponerade möss redan efter 5 dagars exponering. Förhöjda halter av kvävoxid i nervsystemet (ses hos personer drabbade av MS). (Cho …
Lågfrekventa fält (50 gånger under ICNIRP:s gränsvärde) orsakar oxidativ stress i hjärnceller. (Chu et al.)
Lågfrekventa elektromagnetiska fält (50 Hz) långt under gällande gränsvärde (10 mikroT, gränsvärdet är 100) leder till ökad förekomst av markörer för DNA-skada (mikrokärntest). Undersökningen bekräftade också ännu en gång att elektromagnetiska fält orsakar oxidativ stress. (Miyakoshi et al. 2012)
Exponering för mobilstrålning 2 timmar om dagen i 10 månader orsakade förhöjda nivåer av ett protein ((carbonyl)) som är en markör för oxidativ stress och som är kopplat till neurodegenerativa skador.(Dasdaq et al. 2012)